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產(chǎn)品名稱:
環(huán)境試驗(yàn)箱
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:植物生長(zhǎng)環(huán)境箱,高低溫濕熱試驗(yàn)箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律,主要針對(duì)于電工,電子產(chǎn)品,以及其元器件及其它材料在高溫,低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸,使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì),改進(jìn),鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。低溫控制方式:制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán),該循環(huán)由兩個(gè)等溫過(guò)程和兩個(gè)絕熱過(guò)程組成。其過(guò)程如下:制冷劑經(jīng)壓縮機(jī)絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換將熱量傳給四周介質(zhì)。更新時(shí)間: 2023-02-12訪問(wèn)數(shù)量: 3747
產(chǎn)品介紹
1. 環(huán)境試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介
高低溫濕熱試驗(yàn)箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律,主要針對(duì)于電工,電子產(chǎn)品,以及其元器件及其它材料在高溫,低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸,使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì),改進(jìn),鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。
低溫控制方式:制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán),該循環(huán)由兩個(gè)等溫過(guò)程和兩個(gè)絕熱過(guò)程組成。其過(guò)程如下:制冷劑經(jīng)壓縮機(jī)絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換將熱量傳給四周介質(zhì)。
2.環(huán)境試驗(yàn)箱系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
序號(hào) | 項(xiàng)目 | 內(nèi)容 |
1 | 設(shè)備布局 |
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2 | 外殼 | 表面高強(qiáng)度噴塑處理的冷軋鋼板制作 |
3 | 保溫材料層 | 聚氨酯發(fā)泡+超細(xì)離心玻璃棉復(fù)合夾層保溫材料 |
4 | 工作室內(nèi)壁 |
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5 | 大門 |
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6 | 觀察功能 |
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7 | 承重載物托架 |
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8 | 用戶測(cè)試功能 |
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9 | 空氣循環(huán) |
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10 | 移動(dòng)腳輪 | 試驗(yàn)箱帶4個(gè)移動(dòng)腳輪 |
3.高低溫濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)
(1)溫度范圍:-40℃~+150℃;
(2)溫度均勻度:≤2℃(空載);
(3)溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃;
(4)溫度偏差:≤±2℃(空載);
(5)升降溫速率:≥1℃/min(全程平均、空載) ;
(6)濕度范圍:30%~98%RH(+20℃~+80℃、露點(diǎn)溫度+7℃);
(7)濕度偏差:a. ≤75%RH時(shí):≤±5%RH;b.≥75%RH時(shí):-3%RH~+2%RH;
(8)設(shè)備總裝機(jī)容量:12.0KW ,其中a.加熱功率:6.0KW,b.加濕功率:1.5KW,c.制冷壓縮功率:6HP×1臺(tái),d.風(fēng)
機(jī)功率:40W×2臺(tái)。
注:風(fēng)冷設(shè)備測(cè)試指標(biāo)在+25℃條件下測(cè)試。
4.高低溫濕熱試驗(yàn)箱安裝條件
(1)環(huán)境溫度:+5℃~+35℃;
(2)相對(duì)濕度:≤85% RH;
(3)周圍不應(yīng)有高濃度粉塵、腐蝕性氣體和易燃易爆氣氛存在;
(4)電源:AC380V/50Hz/3PH。
5.高低溫濕熱試驗(yàn)箱售后服務(wù)
(1)設(shè)備驗(yàn)收合格后,整機(jī)免費(fèi)保修2年;
(2)保修期結(jié)束后,生產(chǎn)方提供終身維修,而且只收取零部件的成本費(fèi);
(3)在接到使用方維修通知后24小時(shí)內(nèi)提出解決方案,48小時(shí)內(nèi)趕到現(xiàn)場(chǎng)處理。
6.高低溫濕熱試驗(yàn)箱參考標(biāo)準(zhǔn)
(1)GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)檢定方法(溫度試驗(yàn)設(shè)備)
(2)GB/T5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)檢定方法(濕熱試驗(yàn)設(shè)備)
(3)GB2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法)
(4)GB2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法)
(5)GB/T2423.3電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(試驗(yàn)C恒定濕熱試驗(yàn)方法)
(6)GJB150.3設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法(高溫試驗(yàn))
(7)GJB150.4設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法(低溫試驗(yàn))
(8)GJB150.9設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法(濕熱試驗(yàn))
(9)GB/10586濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
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